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Laboratoire des Matériaux Terrestres de l'UQAC
Diffraction-X

Diffraction-X

Description

Les radiations X possèdent la propriété de traverser un matériel et d'être diffractées par les atomes. La technique permet de déterminer les distances interatomiques et l'arrangement des atomes dans les réseaux cristallins. Comme les rayons X sont diffractés de façon différente par les éléments du réseau suivant la construction de ce dernier, l'irradiation de la matière par rayons X permet de connaître sa nature cristallographique. Le degré (2 thêta) de diffraction dépend de l'énergie du rayonnement incident et de la distribution spatiale des atomes (structure cristalline). Le spectre de diffraction constitue l'empreinte caractéristique de la structure cristalline analysée. Les mesures sont effectuées avec un appareil, constitué d'un tube émetteur de rayons X, qui émet un rayonnement vers un échantillon, lequel diffracte une partie du rayonnement émis vers un système de détecteur. Cette technique permet principalement aux géologues d'identifier les minéraux. Les spectres de diffraction peuvent être obtenus directement à partir d'un fragment solide, ou de petites quantités de poudre (spectre de poudre).


Fonction

Cette méthode non destructive permet d'identifier toute phase cristalline.

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